高低溫沖擊試驗(yàn)箱具有很強(qiáng)的適應(yīng)性，設(shè)有多種機(jī)型來適應(yīng)不同的試驗(yàn)要求，可劃分為：空氣間溫度沖擊試驗(yàn)箱、兩箱到三箱以及兩種到三種溫度的沖擊箱（高溫、常溫和低溫）。箱體的大小從27立升到1000立升不等。PLC控制系統(tǒng)和顯示器的操作界面可事先設(shè)置好循環(huán)試驗(yàn)的參數(shù)，使其自動完成試驗(yàn)全過程。
　　
　　高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測試樣的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，GP/3TS系列既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、軍用單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
　　
　　本設(shè)備滿足：
　　
　　ØGB/T2423.22-87Na
　　
　　ØGJB_150.1-86_軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法_總則
　　
　　ØGBT23682-2009制冷系統(tǒng)和熱泵軟管件、隔震管和膨脹接頭要求、設(shè)計(jì)與安裝
　　
　　ØGB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
　　
　　ØGB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
　　
　　ØGB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)：高溫試驗(yàn)方法
　　
　　ØGJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法
　　
　　ØGJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法
　　
　　ØGJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
　　
　　ØGJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：恒定濕熱試驗(yàn)》
　　
　　ØGJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：交變濕熱試驗(yàn)》
　　
　　ØGJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》
　　
　　ØGB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
　　
　　ØGB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
　　
　　ØGB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
　　
　　ØGB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》